[1]
Trishch, R., Maletska, O., Cherniak, O., Semionova, J. і Jancis, V. 2020. АНАЛІЗ ВИМОГ МІЖНАРОДНИХ ТА НАЦІОНАЛЬНИХ СТАНДАРТІВ ДО МЕТОДИК ВИМІРЮВАННЯ ТА МЕТРОЛОГІЧНОГО ОБЛАДНАННЯ. СУЧАСНИЙ СТАН НАУКОВИХ ДОСЛІДЖЕНЬ ТА ТЕХНОЛОГІЙ В ПРОМИСЛОВОСТІ. 1 (11) (Бер 2020), 156–162. DOI:https://doi.org/10.30837/2522-9818.2020.11.156.